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2024/11/15 10:26 157.84 円 166.62 円 202.61 円 Eビームウェーハ検査システム市場レポート：分解能別（1nm未満、1nm～10nm、10nm以上）、用途別（欠陥イメージング、リソグラフィ品質評価、ベアウェーハOQC/IQC、ウェーハ配置、レチクル品質検査、インスペクターレシピ最適化）、最終用途別（通信機器、民生用電子機器、自動車部品、その他）、地域別 2024-2032E-Beam Wafer Inspection System Market Report by Resolution (Less than 1 nm, 1 nm to 10 nm, More than 10 nm), Application (Defect Imaging, Lithographic Qualification, Bare Wafer OQC/IQC, Wafer Dispositioning, Reticle Quality Inspection, Inspector Recipe Optimization), End Use (Communication Devices, Consumer Electronic Equipments, Automotive Parts, and Others), and Region 2024-2032出版社：IMARC Services Private Limited. 
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