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レポート名 イオンミリングシステムの世界市場レポート 2023年以下を含む:1)製品タイプ別製品タイプ別:断面加工、平面加工2)電子顕微鏡タイプ別:走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(TEM)、集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(SEM); 透過型電子顕微鏡(TEM); 集束イオンビーム(FIB)3) 試料材料別:セラミックス; ポリマー; 複合材料; 金属 4) 用途別:半導体製造、地質研究所、法医学研究所、医療研究機関、食品分析 カバーリング株式会社日立ハイテク、日本電子株式会社、Leica Microsystems GmbH、Veeco Instruments Inc、Oxford Instruments plc
出版社名 The Business Research Company (TBRC)
出版月 2023年9月
価格 US$ 4,000
URL https://www.dri.co.jp/auto/report/tbrc/230927-ion-milling-system-global-market-report.html
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